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产品简介
塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3
——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻
塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
设备特点：
◆ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；
◆ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；
◆ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；
◆ 可以用适配器来测量薄膜；
◆ 可定制高阻型。
参数配置：
型号 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
温度范围 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
样品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL | |
加热方式 | 红外加热 | |
气氛 | 高纯氦气（99.999%） | |
样品温差 | MAX.50℃ | |
测量方式 | 电脑全自动测量 | |
工作原理图：
设备结构：
样品腔部分：
应用方向：
对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。
可选功能：
薄膜测量选件
2. 低温选件（温度范围-100℃到200℃）
3. 高阻选件（**到10MΩ）
附：
热电材料/器件测试设备
热电材料测试设备 | 热电转换效率测试设备 |
用户单位
清华大学
中国科学技术大学
上海交通大学
复旦大学
南方科技大学
武汉理工大学
中国科学院上海硅酸盐研究所
中国科学院大连化学物理研究所
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