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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d
台式精准气氛\压力控制高温退火系统—ANNEAL
超导带材临界电流测量系统
脉冲强磁场、软磁、硬磁材料测量
脉冲磁场专用临界电流测量系统
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德国Neaspec纳米傅里叶红外光谱仪
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低震动无液氦磁体与恒温器-attoDRY
超精细多功能无液氦低温光学恒温器XP系列
超精准全开放强磁场低温光学研究平台
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超精细多功能无液氦低温光学恒温器
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高压氧气氛退火炉
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激光加热基座晶体生长炉
纳米胶体/颗粒制备仪
微波等离子化学气相沉积系统
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多功能高级磁控溅射喷金仪—nanoEM
台式超精准二维材料等离子软刻蚀系统—nanoETCH
原位细胞3D切割成像平台
3D纳米结构高速直写机
双光子3D组织切割成像系统
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低温强磁场光探测磁共振成像系统attoCSFM
PPMS-AFM/MFM/SHPM系统
低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜
PAN式低温扫描探针显微镜
热分析仪
纳米薄膜热导率测试系统
激光闪光法热常数测量系统
TEGeta多功能热电材料测量系统
磁热疗效应分析仪
测量/计量仪器
皮米精度激光干涉仪-IDS3010
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大视野单分子超分辨模块-SAFe 180
3D单分子荧光成像系统
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easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪
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相关仪表
美国RHK扫描探针控制单元R9 Plus
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小型台式无掩模光刻系统
波谱仪器
科研用小型无液氦核磁共振波谱仪-NMR
成像系统
小动物自由基成像系统
联系方式 |
产品系列
台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES)
美国easyXAFS公司**推出台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究领域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。
XAFS300 | XES100 |
easyXAFS产品参数
X射线源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W) 能量范围: 5-12keV; 可达19keV 分辨率: 0.5-1.5eV 样品塔: 7位自动样品轮 布拉格角: 55-85 deg | 检测器: SDD 单晶尺寸: 球面单晶(Si/Ge) 直径10cm,曲率半径100cm 软件: LabVIEW, 脚本扫描 扩展: 仪器可外接设备,控制样品条件 分析仪校准: 预先校准,快速插拔更换 |
easyXAFS 产品优势
- 无需同步辐射光源
- 科研级别谱图效果
- 台式设计,实验室内使用
- 可外接仪器设备,控制样品条件
- 可实现多个样品或多种条件测试
- 操作便捷、维护成本低
easyXAFS 应用案例谱图展示
1、XAFS300
2、XES100
■ XES Mode
■ XAFS Mode
easyXAFS 已发表文章
1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.
2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.
3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.
4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018
5. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 2018
6. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.
7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.
8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 2017
9. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.
10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017
11. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.
12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.
13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.